AL-Tİ ALAŞIMININ MİKROYAPISININ İNCELENMESİ

Abstract

Yüksel Lisans Tezi Al-Ti ALAŞIMININ MIKROYAPISININ İNCELENMESİ Koksal YILDIZ Fırat Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Fizik Anabilim Dalı 2005, Sayfa : 129 Bu tezde, vakumlu eritme fırınında 800 °C'de eritilen ve daha sonra döküm ve Bridgtnan tipi kontrollü doğrusal katılaştırma fırınlarında büyütülen Al-Ti (ağırlıkça %1, 2) alaşımlarının mikroyapılan elektron mikroskopi teknikleri ile incelendi. Taramalı elektron mikroskobu (SEM) görüntüleri ve enerji-ayırım x-isini (EDX) spektrumları, Al-%2 Ti alaşımının faz yapısının Al anafazı ve farklı boyut ile farklı yapılara sahip metaller arası TiAl bileşiğinden, 165 um/s'lik katılaşma hızında büyütülen Al-%1 Ti alaşımının Al anafazı ve C, Ni, Fe ve Si safsızlıklarından, 16 um/s ve 8 um/s'lik katılaşma hızlarında büyütülen AI-%1 Ti alaşımlarının ise Al anafazı ve C safsızlıklarından oluştuğunu gösterdi. Alaşım numunelerinin farklı bölgelerinden alınan aydınlık-alan ve karanlık-alan geçirmeli elektron mikroskobu (TEM) görüntüleri ve seçilmiş alan difraksiyonu (SAD) desenlerinden, Al-%2 Ti alaşımının mikroyapısının farklı boyut ve farklı yönelim ilişkilerine sahip tanelerden, Al-%1 Ti alaşımının mikroyapısının ise aralarında yönelim ilişkisi bulunan büyük boyutlu tanelerden oluştuğu belirlendi. Yüksek ayırma güçlü elektron mikroskobu (HREM) görüntülerinden Al-%2 Ti alaşımının örgü uzayı incelendi ve dhkl= 0,141 nm olarak bulundu. Katılaşma şartlarının ve Ti içeriğinin alaşımların son mikroyapılan ve faz bileşenleri üzerinde etkili olduğu görüldü. Anahtar Kelimeler : Al-Ti Alaşımı, Mikroyapı, TiAl, Elektron mikroskopisi. XV