A dual-branch attention-based segmentation model for accurate detection of small-scale terminal surface defects in industrial environments

Yükleniyor...
Küçük Resim

Tarih

Dergi Başlığı

Dergi ISSN

Cilt Başlığı

Yayıncı

Elsevier Sci Ltd

Erişim Hakkı

info:eu-repo/semantics/closedAccess

DOI

10.1016/j.measurement.2025.119582

Özet

Açıklama

Anahtar Kelimeler

Kaynak

Measurement

WoS Q Değeri

Scopus Q Değeri

Cilt

259

Sayı

Künye

Onay

İnceleme

Ekleyen

Referans Veren

Haklar ve lisanslama

info:eu-repo/semantics/closedAccess