A dual-branch attention-based segmentation model for accurate detection of small-scale terminal surface defects in industrial environments
Yükleniyor...
Tarih
Yazarlar
Dergi Başlığı
Dergi ISSN
Cilt Başlığı
Yayıncı
Elsevier Sci Ltd
Erişim Hakkı
info:eu-repo/semantics/closedAccess
DOI
10.1016/j.measurement.2025.119582
Özet
Açıklama
Kaynak
Measurement
WoS Q Değeri
Scopus Q Değeri
Cilt
259
Sayı
Künye
Onay
İnceleme
Ekleyen
Referans Veren
Haklar ve lisanslama
info:eu-repo/semantics/closedAccess







