CUALNİTİ DÖRTLÜ ŞEKİL HATIRLAMALI ALAŞIMLARIN FİZİKSEL ÖZELLİKLERİ ÜZERİNE ISIL İŞLEM ETKİSİ

Abstract

Bu çalışmada CuAlNi alaşımına belirli oranlarda Ti elementi eklenerek üç farklı CuAlNiTi alaşımı arc-ergitme yöntemiyle üretildi. Alaşımlardan birer parça 800 oC de bir saat ısıl işleme tabi tutulduktan sonra, sıvı azot(-196 oC), alkol(0 oC) ve tuzlu buzlu suda(+6 oC) ani soğutuldu. Isıl işlem uygulanmamış numunelerin (ana numuneler) ve ısıl işlem uygulandıktan sonra üç farklı soğutma yöntemi uygulanmış numunelerin DSC ölçümleri alındı. Isıl işlemin faz dönüşüm sıcaklıklarını arttırdığı görüldü. Alkol ve tuzlu buzlu suda ani soğutma numunenin faz dönüşüm sıcaklığını yaklaşık 100 oC arttırdığı görüldü. Ayrıca alaşımların ısıl işlem sonrası mikro yapısında meydana gelen değişimleri gözlemek için Nikon Eclipse MA200 optik mikroskop ve SEM ölçüm sistemleri yapıldı. Alkol ve tuzlu buzlu suda ani soğutulan numunelerde tane sınırlarının daha belirginleştiği ve martensit plakaların arttığı gözlendi. Oda sıcaklığında kristal yapıları, Bruker Discover D8 marka X-ışınları difraktogramı kullanılarak belirlendi.

In this study, three different CuAlNiTi alloys produced by arc melter methods with addition different rate Ti element. The part of alloys exposed to heat treatment at 800 oC and then quenched into liquid nitrojen (-196 oC), alcohol (0 oC) and ice-brined (+6 oC). DSC ( Differantial Scaning Calorimetry) measurement of non heat treated ( main sample ) and quenched at three conditions after heat treatment were done, it could be seen that heat treatment were increased the phose transformation temperature. The quenching at alcohol and ice-brined water were increased phose transformation temperature abount 100 oC. Besides, changes of microstructure were determined by using Nikon Eclipse MA200 optical micrograph and SEM measurement systems. The grain boundry was seen clearly for alcohol and ice-brined water quenched materials and martensite plates were seen. Crystal structures of materials were determined by Bruker Discover D8 X-ray difractograms at room temperature.