SOL JEL METODU İLE ÜRETİLEN HİDROKSİAPATİT ESASLI BİYOSERAMİK MALZEMELERİN MİKROYAPI VE FİZİKSEL ÖZELLİKLERİNİN İNCELENMESİ

Abstract

Bu çalışmada, Mg, Zn ve Al katkılanmış hidroksiapatit biyoseramikleri Sol-Jel metodu kullanılarak hazırlandı. Numunelerin yapısal özellikleri; X-ışını kırınımı (XRD) ve Fourier dönüşüm kızılötesi (FTIR) spektroskopisi, taramalı elektron mikroskopisi (SEM) ve enerji dağılımlı X-ışını (EDX) spektroskopisi teknikleri ile incelendi. Numunelerin elektriksel dirençleri ve dielektrik parametreleri, DC ve AC ölçümleri ile ölçüldü.Tüm numunelerin kristal yapıları, katkı maddesi miktarı ile değişmektedir. Kristalleşme derecesi, katkı maddesi miktarının arttırılmasıyla azalmaktadır. X-ışını kırınımı sonuçları, numunelerin nanokristal olduklarını gösterir. Tüm numuneler, elektriksel dirençlerinin 1x1011 ? civarında olmasından dolayı elektriksel olarak yalıtkandırlar. Numunelerin alternatif akım iletkenliği mekanizmasının sıçrama mekanizması ile kontrol edildiği bulunur. Zn ve Al katkılı numunelerin yoğunluk değerleri katkı miktarının arttırılmasıyla artar fakat Mg katkılı numunelerin yoğunluk değerleri, Mg miktarının arttırılmasıyla azalır. FTIR spektrumu analizleri, numunelerin yapısında özellikle fosfat ve hidroksil gruplarının varlığına işaret eder. Numunelerin yapısal özellikleri ve kimyasal bileşimleri, katkı maddesinin miktarına bağlı olarak değişmektedir.

In present work, Mg, Zn and Al doped hydroxyapatite bioceramics were prepared by Sol-gel method. The structural properties of the samples were investigated using X-ray diffraction (XRD) and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy and scanning electron microscopy (SEM) and energy dispersive X-ray (EDX) spectroscopy techniques. The electrical resistance and dielectrical parameters of the samples were measured by DC and AC measurements.The crystal structures of all the samples were changed with the content of dopant. The degree of crystallization is decreased with increasing content of dopant. X-ray diffraction results show that the samples are from the nanocrystals. All the samples are electrically insulator due to their electrical resistances of 1x1011 ?. The dielectric constants of the samples were changed by the content of dopant. It is found that the alternating current conductivity mechanism of the samples is controlled by hopping mechanism. The density values of Zn- and Al-doped samples are increased with increasing the amount of the dopant, but the density values of the Mg-doped samples are decreased with increasing the amount of Mg. FTIR spectra analysis indicates the presence of the phosphate and hydroxyl groups, especially, in the structure of the samples. The structural and chemical compositions of the samples were changed with depending on type and amount of the dopant.